當(dāng)前位置：廣州鴻熙電子科技有限公司>>X射線熒光光譜儀>>X射線鍍層測(cè)厚儀>>iEDX-150T鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試

iEDX-150T鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試

返回列表頁

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

紡織服裝機(jī)械網(wǎng)采購部電話：0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2025-03-16 09:22:47瀏覽次數(shù)：27次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自紡織服裝機(jī)械網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  X射線熒光光譜儀

X射線鍍層測(cè)厚儀

RoHS有害物質(zhì)分析儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

廣州鴻熙電子科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：57條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：江先生

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡介

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試iEDX-150T是專業(yè)用于金銀首飾及精密五金電鍍領(lǐng)域的X射線熒光光譜分析儀，是韓國進(jìn)口品牌ISP專業(yè)生產(chǎn)的，質(zhì)量精良，穩(wěn)定性好，測(cè)試準(zhǔn)確度可做到5%以內(nèi)。

詳細(xì)介紹

一、產(chǎn)品概述

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試

產(chǎn)品類型：能量色散X熒光光譜分析設(shè)備

產(chǎn)品名稱：鍍層厚度測(cè)試儀

型號(hào)：iEDX-150T

生產(chǎn) 商：韓國ISP公司

產(chǎn)品圖片：

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試iEDX-150T

工作條件
●工作溫度：15-30℃	●電源：AC: 110/220VAC 50-60Hz
●相對(duì)濕度：<70%，無結(jié)露	●功率：150W + 550W

二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及特征

鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

鍍層檢測(cè)，多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
儀器尺寸：618*525*490mm，樣品臺(tái)移動(dòng)距離：160*150*90mm。
激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。
可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。
運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。
可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。
操作簡單、易學(xué)易懂、**無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測(cè)結(jié)果。
可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級(jí)。
無損檢測(cè)，一次性購買標(biāo)樣可**使用。
使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi)，提供***保姆式服務(wù)。
可以遠(yuǎn)程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
可進(jìn)行RoHS檢測(cè)（選配功能），測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測(cè)試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對(duì)成分進(jìn)行分析。

（二）產(chǎn)品特征

高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。

Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)（FP）軟件，通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法，對(duì)樣品進(jìn)行**的鍍層厚度分析，可以增加RoHS檢測(cè)功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測(cè)量

相對(duì)（比）模式無焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量

單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]

Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)**定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計(jì)算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、標(biāo)準(zhǔn)差、低/高讀數(shù)，趨勢(shì)線，Cp 和 Cpk 因素等
自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量。大測(cè)量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明

u 測(cè)量原理：能量色散X射線分析	u 樣品類型：固體/粉末
u X射線光管：50KV，1mA	u過濾器：5過濾器自動(dòng)轉(zhuǎn)換
u檢測(cè)系統(tǒng)：SDD探測(cè)器（或Si-Pin）	u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
u檢測(cè)元素范圍：Al (13) ~ U(92)	u準(zhǔn)直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)
u應(yīng)用程序語言：韓／英／中	u分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光
u儀器尺寸：618525490mm	u樣品臺(tái)移動(dòng)距離（自動(dòng)臺(tái)）：16015090mm
u樣品臺(tái)尺寸：250*225mm

X射線管：高穩(wěn)定性X光光管，使用壽命（工作時(shí)間>18,000小時(shí)）

微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬) 靶鈹窗口，陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供**性能。

探測(cè)器：SDD 探測(cè)器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

濾光片/可選

初級(jí)濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換

7個(gè)準(zhǔn)直器：客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

平臺(tái)：軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
激光定位、簡易荷載大負(fù)載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)量
樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能